具有多通道测量能力和以太网界面的纳米分辨率电容系统

2013年11月25日

Micro-Epsilon已推出了一个新的电容控制器和解调器，用于其非接触电容式位移和位置传感器范围，为R＆D，测试和OEM环境提供了模块化，紧凑，可扩展和成本效益的测量系统。

新的Capancdt 6200是一个集成的测量系统，包括控制单元，解调器和以太网接口，通过Web浏览器支持快速简便的配置。

Capancdt 6200允许将多达四个附加的测量通道添加到基本控制器单元中，而不会损失性能或中断。任何微型EPSILON电容式位移传感器都可以连接到控制器，而无需额外校准。

控制器得到了各种安装选项的支持，包括台式安装（标准）和设备架和控制柜上的顶帽/DIN轨安装。

Capancdt 6200具有一个以太网接口，该接口允许使用Web接口进行简单的配置和测量。通过轻松地集成到现有网络中，以太网界面还可以最大化测量读数的准确性，因为与模拟输出相比，信号中没有信号“噪声”或损失，从而导致了真实的纳米分辨率。

可以将自定义参数（例如速度，带宽和特定过滤器）存储在控制器上，从而提高测量结果的准确性。还具有用于厚度或差分应用的数学功能。因此，测量系统非常适合研发和测试，OEM和生产环境，在该环境中，扩展测量系统的灵活性和/或高精度测量是关键。

CAPANCDT 6200测量系统据说适合在多种非接触位移，位置和距离测量应用中使用，包括厚度，倾斜角度和振动的测量。测量范围从0.05mm到10mm。


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